陈同熙;方良栋;

• 1: 福建师范大学物理系
• 2:福建师范大学物理系

摘要(Abstract)：

本文介绍在X射线晶体分析过程中,应用微机处理立方晶系德拜像的数据,确定晶格常数、晶面指数及对应的晶体,并能在监示屏上直观图解,显示晶体分析的过程。

关键词(KeyWords)： 微机应用;X射线晶体分析法;德拜照片

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Authors): 陈同熙;方良栋;

参考文献(References)：

• [1] Cullity B D. Elements of X-ray Diffraction. Printed in the United States of America, 1952．
• [2] Gvinier A. X-ray Crystallographic Technology. London University College, 1952．
• [3] 许顺生·金属X射线学.上海:上海科学技术出版社,1964．
• [4] 童显干等.苹果Ⅱ微型计算机用户指南.武汉:湖北科学技术出版社,1985．